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半导体芯片性能测试和失效分析

半导体芯片性能测试和失效分析

分类:

半导体测试

详细介绍

半导体芯片性能测试和失效分析

✦测试参数：

•IV/CV/Pulsed IV/reliability, S parameter, Failure analysis

✦目标应用:

•Semiconductor Companies(Logic/LSI/Memory/RF)

•Semiconductor Design & Modeling

•R&D, University, Government, LAB

•New Materials, Nano Technology, Green energy

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